熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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產(chǎn)品分類
Product Category該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測和解調(diào)電子來測量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以對雙折射、快速軸向和理論...
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品,用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量,也可用作諸如玻璃面板,透鏡,晶體,單晶硅/多...
BEAMAGE系列光束質(zhì)量分析儀分析激光光束是對其功率或能量測量的一種方便補(bǔ)充,因?yàn)楣馐|(zhì)量分析儀提供了非常有用的附加信息,如空間能量或強(qiáng)度分布、光束寬度、質(zhì)心、橢圓度和方向,可以幫助您確定您的激光系...
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出,型號為150AT,為客戶提供技術(shù),具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds...
光學(xué)玻璃應(yīng)力測量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間;平臺設(shè)計(jì)-使可測量面積盡可能大;強(qiáng)大的自動化-質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時間。
UP19-W 系列功率測量,熱電堆只是一系列熱電偶串聯(lián)連接并相互靠近。常見的應(yīng)用是當(dāng)施加電壓以冷卻熱電堆的一側(cè)以及它所粘合的任何一側(cè)時。然而,激光功率測量熱電堆用途相反。即,使用溫度差制造電壓。一側(cè)的...
Gentec-EO功率計(jì)和能量計(jì)在這個領(lǐng)域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO還為您提供UP12-H&UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭,UP19-VR系列特定UV和IR波段的高峰值功率脈...
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