熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡要描述:150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品,用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量,也可用作諸如玻璃面板,透鏡,晶體,單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應(yīng)力情況,便于操作和日常監(jiān)測。
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150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品,用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量,也可用作諸如玻璃面板,透鏡,晶體,單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應(yīng)力情況,便于操作和日常監(jiān)測。
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)(殘余應(yīng)力檢測)可以根據(jù)客戶需求選擇設(shè)置,使得測量更有針對性(高精度/大范圍相位延遲量),系統(tǒng)有著*測量速度的同時也具有*的測量分辨能力(<1 mm grid spacing ),150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺等設(shè)計來幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測量需求。
產(chǎn)品特點:
自動X/Y位移平臺掃描
二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應(yīng)力分布測量結(jié)果
臺式整機設(shè)計組裝
靈活位移平臺設(shè)計,滿足個性化定制需求
強大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶界面
產(chǎn)品咨詢