應力雙折射儀是一種用于測量光線經(jīng)過單軸晶體時的雙折射現(xiàn)象的儀器。其工作原理基于它們的物質學性質，即單軸晶體沿一個方向具有高度對稱性，沿其他兩個方向則沒有對稱性。這使得單軸晶體對于進入的光線在兩個反向傳播方向上表現(xiàn)出不同的折射率。例如，若將一束與晶體軸夾角相等的地面光投入樣品，其中一束光會同時沿著晶體軸和眾多不同的方位產生折射；而另一束僅縱向通過晶體。
 

　　由兩部分組成：樣品和偏振器(Polarizer)。一個固定的偏振器放在樣品前面，以控制作用在晶體上的光源偏振狀況。然后光通過樣品，被分離成兩束，其中一束是O光，按照規(guī)律沿著擬合自然方向的折射面的晶面(⊥光)、另一支是E光，沿著垂直折射面的晶面(∥光)。分離后兩束光會被小孔再次凝聚到一起，并由另一個偏振器檢測其強度。偏振器可以wheel控制以調整其方向，以使得樣品對于不同極軸之間的折射率差異變得顯而易見。將其放置在微調范圍內(通常為+/-20°)，從而測量雙折射(doublrrefraction)產生的相位延遲。
 

　　應力雙折射儀廣泛應用于材料科學、礦物學、晶體學和地質學中，以準確測量物質中的應力狀態(tài)并推斷物質結構、性質等信息。此外，在天文學和高能物理學領域，它還可以被用來識別施加在高度對稱晶體上的非常弱的應力，以及探究高能粒子與物質作用時的相關效應。
 

　　應力雙折射儀優(yōu)點：
 

　　1.可以對單晶樣品進行大量測量并快速獲得彈性狀況信息；
 

　　2.測定結果具有重復性高、靈敏度高和抗干擾性好等特點；
 

　　3.能夠應用于多種場合下對各種PMMA進行非接觸、無損傷測試。